English
Deutsch
Español
Français
Magyar
Italiano
日本語
한국어
Nederland
Język polski
Português (PT)
Русский язык
简体中文
繁體中文
Türkçe
Semiconductor silicon wafer under test on the probe station. Selective focus. - 170633781
PREMIUM

Półprzewodnikowy wafel krzemowy testowany na stacji sondy. selektywne skupienie.

 170633781

Podobne zdjęcia Royalty-Free